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In-Sight 1740 Wafer ID 讀碼器
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In-Sight 1740 Wafer ID 讀碼器
In-Sight 1740 與 DataMan 讀碼器
確保讀碼迅速又準確,實現晶圓至封裝全程的可追溯性

康耐視 In-Sight 1740 系列晶圓讀碼器採用專為晶圓識別開發的先進演算法,在前端與後端處理期間提供光學字元辨識 (OCR) 與二維讀碼功能。這些晶圓讀碼器使用適合的集成光源與圖像處理功能,可為各種不同的標記方法提供最佳的成像系統,包括英數與 SEMI-T7 DataMatrix 碼。In-Sight 1740 能自行順應因不同處理步驟造成的標記外觀變化,因此可減少無法讀到資料的情況,幾乎無需進行機器協助,並使機器運轉時間達到最長。
 

先進的照明系統

具備 12 種模式之內建軟體控制、亮場和暗場照明功能,幾乎任何的 ID 打標,In-Sight 1740 系列讀碼器均可拍攝其影像。超軟打標、超薄塗層藍寶石基板 - In-Sight 1740 系列照明系統都能從容應付這些挑戰,且不僅止於此。加上,因應業者開發出新型的晶圓製程和塗層,In-Sight 1740 系列讀碼器以專業照明裝置搭配輔助燈具連接埠,只需經過延伸即可解決成像上的新挑戰。
Dark-field


業經證實的讀取演算法
即使最有效的照明,都需要先進的 ID 演算法才能成功掃讀 OCR、T7 資料矩陣,以及難以拍攝晶圓影像上的條碼。In-Sight 1740 系列的核心就是康耐視讀取演算法,這是康耐視根據安裝其超過 31,000 個晶圓 ID 系統的獨特經驗所開發,對於邊緣球狀物造成外觀不佳的 ID 打標、CMP、刻劃在壓鑄的圖案及其他情況,這些演算法已證實是業界中最堅固、最可靠的演算法。

T7-close-up


影像增強濾鏡
晶圓處理效應可能會影響 ID 打標品質,最嚴重的程度時,即使是最先進的照明系統和軟體演算法都無法讀取。In-Sight 1740 系列讀碼器可使用自動影像增強濾鏡,克服這些外觀不佳情況。在最嚴苛的情況下,濾鏡能將讀取失敗轉成成功讀取,同時增加可靠性,並消除人工介入作業之需要。

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更快的掃讀效能

In-Sight 1740 系列的掃讀速度比前一代熱銷 In-Sight 1720 系列機種快了 40%。如虎添翼的功能也可以用來執行更需要處理器資源的影像分析,並提供卓越可靠的結果,且不會增加整體掃讀次數。

 
 
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